Krytka objektivu s priemerom 49 mm

Krytka objektivu s priemerom 55 mm

Slnečná clona, ktorá bráni vnikaniu parazitného svetla do objektívu. Clona Starblitz má priemer 55 mm a na objektív ju možno naskrutkovať oboma smermi. Minimalizuje riziko vinetácie aj chýb vzniknutých nadbytočným svetlom, odrazeným napr. od difúznej oblohy, vodnej hladiny, bielej látky atď.

Slnečná clona, ktorá bráni vnikaniu parazitného svetla do objektívu. Clona Starblitz má priemer 52 mm a na objektív ju možno naskrutkovať oboma smermi. Minimalizuje riziko vinetácie aj chýb vzniknutých nadbytočným svetlom, odrazeným napr. od difúznej oblohy, vodnej hladiny, bielej látky atď.

Slnečná clona, ktorá bráni vnikaniu parazitného svetla do objektívu. Clona Starblitz má priemer 77 mm a na objektív ju možno naskrutkovať oboma smermi. Minimalizuje riziko vinetácie aj chýb vzniknutých nadbytočným svetlom, odrazeným napr. od difúznej oblohy, vodnej hladiny, bielej látky atď.

Krytka objektivu s priemerom 52 mm

Krytka objektivu s priemerom 55 mm

Slnečná clona, ktorá bráni vnikaniu parazitného svetla do objektívu. Clona Starblitz má priemer 55 mm a na objektív ju možno naskrutkovať oboma smermi. Minimalizuje riziko vinetácie aj chýb vzniknutých nadbytočným svetlom, odrazeným napr. od difúznej oblohy, vodnej hladiny, bielej látky atď.

Krytka objektivu s priemerom 62 mm

Slnečná clona, ktorá bráni vnikaniu parazitného svetla do objektívu. Clona Starblitz má priemer 52 mm a na objektív ju možno naskrutkovať oboma smermi. Minimalizuje riziko vinetácie aj chýb vzniknutých nadbytočným svetlom, odrazeným napr. od difúznej oblohy, vodnej hladiny, bielej látky atď.

Slnečná clona, ktorá bráni vnikaniu parazitného svetla do objektívu. Clona Starblitz má priemer 77 mm a na objektív ju možno naskrutkovať oboma smermi. Minimalizuje riziko vinetácie aj chýb vzniknutých nadbytočným svetlom, odrazeným napr. od difúznej oblohy, vodnej hladiny, bielej látky atď.

Krytka objektívu s priemerom 67 mm

Podložka pod Capture Peak Design PRO Pad PP2 výrazne zvýši stabilitu a pohodlie pri používaní aj tých najťažších fotoaparátov a objektívov. Je možné ho používať nielen na opasku, ale aj popruhu batoha. Vyrobené z vysokokvalitných materiálov.

Podložka pod Capture Peak Design PRO Pad PP2 výrazne zvýši stabilitu a pohodlie pri používaní aj tých najťažších fotoaparátov a objektívov. Je možné ho používať nielen na opasku, ale aj popruhu batoha. Vyrobené z vysokokvalitných materiálov.

Slnečná clona, ktorá bráni vnikaniu parazitného svetla do objektívu. Clona Starblitz má priemer 72 mm a na objektív ju možno naskrutkovať oboma smermi. Minimalizuje riziko vinetácie aj chýb vzniknutých nadbytočným svetlom, odrazeným napr. od difúznej oblohy, vodnej hladiny, bielej látky atď.

Slnečná clona, ktorá bráni vnikaniu parazitného svetla do objektívu. Clona Starblitz má priemer 72 mm a na objektív ju možno naskrutkovať oboma smermi. Minimalizuje riziko vinetácie aj chýb vzniknutých nadbytočným svetlom, odrazeným napr. od difúznej oblohy, vodnej hladiny, bielej látky atď.

Slnečná clona, ktorá bráni vnikaniu parazitného svetla do objektívu. Clona Starblitz má priemer 72 mm a na objektív ju možno naskrutkovať oboma smermi. Minimalizuje riziko vinetácie aj chýb vzniknutých nadbytočným svetlom, odrazeným napr. od difúznej oblohy, vodnej hladiny, bielej látky atď.

Slnečná clona, ktorá bráni vnikaniu parazitného svetla do objektívu. Clona Starblitz má priemer 82 mm a na objektív ju možno naskrutkovať oboma smermi. Minimalizuje riziko vinetácie aj chýb vzniknutých nadbytočným svetlom, odrazeným napr. od difúznej oblohy, vodnej hladiny, bielej látky atď.

Skvalitní fotografovanie na dlhšie vzdialenosti – telekonvertor OM System TCON-T01 umožňuje zaobstarať dramatické detailné zábery s profi vyzerajúcim rozostreným pozadím a zvyšuje pomer optického zoomu o 6,8×.

Ochráni objektív pred nečistotami aj škrabancami – krytka na objektív OM System LB-T01 ľahko pripevníte k fotoaparátu pomocou bezpečného skrutkového držiaka. Je možné ju ovládať len jednou rukou, vždy budete pripravení na okamžité fotografovanie.